Author Affiliations
Abstract
1 Department of Physics, College of Science, Qiqihar University, Qiqihar 161006, China
2 College of Chemistry, Fuzhou University, Fuzhou 350108, China
The 885 nm direct pumping directly into the 4F3/2emitting level of Nd3+is applied on an Nd:Lu0.15-Y0.85VO4crystal. The maximum output power of 2.8 W for continuous wave (CW) operation is obtained. For Q-switched operation, the maximum average output power is 1.2 W with pulse repetition of 23.69 kHz and pulse width of 35 ns at the pump power of 27.9 W. The high-quality fundamental transverse mode can be observed owing to the reduction of thermal effect for Nd:Lu0.15-Y0.85VO4crystal by 885 nm direct pumping.
光电子快报(英文版)
2015, 11(3): 199
作者单位
摘要
同济大学 软件学院, 上海 201804
简述了通过网页3D来分享信息及进行3D交互的相关技术.针对大规模的地下空间场景以及对该场景进行网页实时展示的需求,提出了一套基于互联网进行大规模地下空间实时展示的轻量级场景管理机制.首先,对地下空间场景数据进行轻量化预处理,构建轻量级场景管理结构.然后,根据场景数据特点提出相应的场景管理策略,即基于兴趣区域的室外场景管理策略和基于入口的室内场景管理策略.通过视点位置驱动实现室内外场景切换,并自动选择管理策略,达到在网页上进行远程实时漫游大规模地下空间场景的效果.实验表明:该方法能大幅度剔除不必要的场景数据,提高资源利用率,满足在线展示大规模地下空间场景的需求.由于网页应用具有跨平台优势,提出的系统支持用户跨平台对大规模地下空间场景进行实时漫游与操控.
地下空间 场景管理 在线展示 轻量化 Web3D Web3D underground space scene management online visualization lightweight 
光学 精密工程
2015, 23(3): 895
作者单位
摘要
华中科技大学机械学院仪器系, 湖北 武汉 430074
双光栅干涉位移传感器拥有量程大、精度高等优点。文中详细阐述了传感器的测量原理,并对此理论原理进行ZEMAX软件仿真。与此同时,基于角谱理论推导得到干涉场中的光强分布。结果表明,激光通过双光栅后可以得到三角函数分布的干涉条纹,且双光栅相对移动一个光栅距离时条纹相应移动一个周期。最后分析了对双光栅传感器位移测量结果可能带来误差的因素,以及这些因素对测量结果的影响,文中给出了部分因素的误差表达式。
双光栅干涉 位移测量 ZEMAX仿真 误差分析 dual-grating interference displacement measurement ZEMAX simulation error analysis 
光电技术应用
2012, 27(3): 41
作者单位
摘要
北京控制工程研究所,北京 100190
太阳敏感器是卫星姿态控制系统中常用的一种光电敏感器。当卫星控制系统转入应急模式时,太阳敏感器的宽视场快速捕获太阳尤为重要。本文设计了一种梯形狭缝式太阳敏感器,该敏感器具有大的检测视场(157°)且可满足大太阳角(最大175°)下的应用,而采用梯形狭缝设计可大幅度减小太阳角大范围变化对太阳脉冲宽度的影响,从而便于后续处理电路的设计。实际的在轨飞行试验中验证了这种太阳敏感器的实用性。
太阳敏感器 梯形狭缝 太阳脉冲 sun sensor ladder-shaped narrow slit sun sensor's output pulse 
光电工程
2010, 37(5): 123
作者单位
摘要
1 华中科技大学 机械学院 仪器系,湖北 武汉 430074
2 华侨大学,福建 泉州 362021
3 哈德斯菲尔德大学 精密技术中心,英国
为了评价仪器的软件和整体性能,根据ISO软件测量标准(SoftGauge)5436-2,应用过程仿真、以及实测电加工表面和实测珩磨表面得到的标准数据,研究了采用不同方法获得的表面形貌即粗糙度轮廓的评定基准,分别为高斯滤波基准、最小二乘中线基准和最小二乘曲线基准。给出了不同基准下ISO 4287定义的表面粗糙度轮廓典型参数的评定结果,包括Ra、Rq、Rp、Rv、Rsk、Rku等,分析了几种基准下各参数相对于标准结果的计算偏差。计算结果表明:对于仿真数据,3种方法的计算精度都比较好,仅仅参数Rsk在两个最小二乘基准下偏差较大,达50%左右;对于电加工表面数据,高斯基准下的各个参数偏差最小,其它两种基准下偏差稍大,而相对偏差较大的是Rsk和Rp,其中Rsk分别为3.55%和-7.45%,Rp分别为-3.45%和3.95%;对于含有跳跃点的珩磨表面,3种基准下的评定结果都有较大偏差,其中求均值运算的Ra、Rq的偏差稍小,其它较大,经过剔除处理后,Ra、Rq偏差仍然相对稍小,Rsk和Rp由较大偏差明显减小为稍小偏差,而Rku、Rp偏差没有明显改进,仍约为40%。总之,3种方法对奇异点较敏感,对无奇异点的粗糙度轮廓的常用参数评定结果基本一致。在评定一般精度、表面无明显周期波纹度成分和较大奇异特征时,对于常用表面功能评定参数,如Ra、Rq,选用原理简单、实现方便的最小二乘拟合基准即可满足要求。
粗糙度评定 基准 标准数据 roughness evaluation mean line ISO5436-2 standard data ISO4287 ISO5436-2 ISO4287 
光学 精密工程
2009, 17(5): 1063
作者单位
摘要
1 华中科技大学 机械科学与工程学院,湖北 武汉 430074
2 香港科技大学 机械工程系,香港 九龙
为满足波面剪切干涉和双细光束干涉曲反射表面非接触精密测量、台阶高度测量以及其他平行分光需要,利用双折射晶体特性,研究并设计了一种单一平板激光平行分束器。当一束激光入射到双折射晶体时,它的2个相互正交的的偏振分量将有不同的折射特性,因此特定晶轴方向和厚度的晶体平行平板可以实现入射光束的平行分束。描述了双折射晶体平行平板的分束原理,推导了分束距离与光轴方向、晶体厚度、入射角的关系,分析了分束距离随主要设计参数的变化规律。采用设计的晶体激光分束器进行了实验测试,验证了分析与实测结果的一致性。
激光分束器 双折射晶体 特性分析 laser beam splitter birefringent crystal characteristic analysis 
应用光学
2008, 29(1): 0031
作者单位
摘要
北京控制工程研究所,北京 100190
设计了一种三轴紫外敏感器,解决了近地轨道大视场观测问题。通过非常规光学系统,即反射阵列组合式光学系统,将一圆型大视场分成八个子视场成像、叠加后经图像处理,为卫星提供三轴姿态信息和自主导航数据。三轴紫外敏感器标定精度为偏航小于0.05°,俯仰小于0.05°,滚动小于0.05°。研制成的工程样机,通过观星试验和利用星模拟器测试,三轴紫外敏感器可以观测到5等星;紫外波段敏感器可以作为是深空探测航天器重要敏感器之一。
紫外敏感器 大视场 光学系统 三轴 ultraviolet optical sensor wide field of view optical system three-axis 
光电工程
2008, 35(11): 86
作者单位
摘要
1 华中科技大学 机械科学与工程学院,武汉 430074
2 香港科技大学 机械工程系,香港,九龙
为探讨和证明双折射晶体激光剪切干涉仪用于在线表面精密测量的可能性,推导了该干涉仪中光传输和实现表面测量的模型,分析了其抗振特性,模拟了相当的振动条件对其抗振特性进行实验测试。分析和实验证明了该干涉仪具有良好的抗振能力,适合应用于在线表面精密测量。
仪器测量与计量 剪切干涉 在线 分析 instrumentation measurement and metrology shear interference on-machine analysis 
激光技术
2006, 30(4): 0337
作者单位
摘要
1 北京理工大学 信息科学技术学院光电工程系,北京 100081
2 北京控制工程研究所,北京 100080
3 中国计量科学研究院,北京 100013
论述了空间姿态敏感器表面材料测量的基本原理,即光谱漫反射基本原理和光谱相对空间反射分布测量原理。通过上述测量可以全面地考察敏感器表面材料对不同光谱成分的反射能力,以及光辐射在材料表面的反射情况。结果表明,敏感器表面材料在入射和反射角大于60°的近红外区(波长为800~2500nm),敏感器表面材料的反射辐射能量明显升高了。在紫外至可见光区(波长为250~700nm),在入射和反射角小于60°的条件下,反射辐射能量很低。
敏感器 反射辐射 测量 sensor reflected radiation measurement 
光学技术
2006, 32(4): 0615

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